Японский сканирующий электронный микроскоп SU1510

ДоговариваемыйОбновление на03/18

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Японский сканирующий электронный микроскоп SU1510 использует точную конструкцию, по сравнению с аналогичным разрешением и конфигурацией оборудования, сокращение объема на 20%, экономия пространства, стандартизация вторичных электронных и задних детекторов рассеяния, облегчает одновременное наблюдение за формой и футеровкой, с четырьмя смещениями, четырехдырочными диафрагмами, высокоразрешающим задним рассеянием, длинными прокладками и т. Д. *

Подробности о продукте

Японский сканирующий электронный микроскоп SU1510

Презентация продукции:

Использование точной конструкции, чем разрешение и конфигурация аналогичного оборудования при тех же обстоятельствах, уменьшение объема на 20%, экономия пространства, стандартизация вторичных электронов и детекторов обратного рассеяния, облегчает одновременное наблюдение формы и футеровки, имеет четыре смещения, четырехотверстие диафрагмы, высокое разрешение обратного рассеяния, длинную втулку и т. Д. * конструкция.

Ширина хоста составляет всего 55 см, небольшой размер, высокопроизводительные сканирующие зеркала с переменным давлением с разрешением 3,0 нм.

Основные характеристики японского сканирующего электронного микроскопа SU1510:

1) Основная часть прибора уменьшена на 20% по сравнению с прошлым и позволяет более свободно выбирать место установки.

2. Стандартизированная функция низкого вакуума, может проводить непроводящее электричество без наблюдения распыления. Преобразование высокого и низкого вакуума завершается одним нажатием клавиши.

Стенд для образцов может загружать образцы Zui большого диаметра 153 мм и высоты 60 мм (WD = 15 мм) и проводить EDX - анализ.

Мощная функция управления мышью позволяет выполнять все действия зеркала.

5.Вакуумная система молекулярного насоса, чистая без загрязнения.

Технические параметры:

Квадратное электронное разрешение	3.0 нм (высокий вакуум, 30 кВ)
Разрешение электронов обратного рассеяния	4.0 нм (низкий вакуум: 60 Па, 30 кВ)
коэффициент	От 5 до 300 тысяч раз.
напряжение ускорения	0,3~30 кВ
Стол для образцов	Х 0 ~ 80 мм Y 0 ~ 40 мм З 5 ~ 50 мм Т -20 ~ 80 мм R 360°
Управление платформой образца	Ручной (необязательно: 2 - осевой мотор)
Zui Загрузить размер образца	Диаметр: 153мм
Zui Большой обзор	Диаметр: 126 мм (в сочетании с XYR)
Высота большого образца Zui	60 мм (WD = 15 мм)
Низкий вакуум	6 - 270 Па (настраивается из меню)
Лампа	вольфрамовая проволока
диафрагма объектива	4 Переменная диафрагма
Смещение ствола	Постоянное пропорциональное смещение, ручное смещение, автоматическое смещение 4
Детектор	детектор вторичных электронов
Анализ местоположения EDX	WD = 15 мм, TOA = 35°
Вакуумная система	Молекулярный насос 1, механический насос 1
меры безопасности	Отключение электричества, утечка, автоматическая защита

Область применения:

Полупроводники

биология

высокомолекулярный

Похожий продукт рекомендовать