Электронный микроскоп HF - 3300

Электронный микроскоп HF - 3300

Презентация продукции:

HF - 3300 - это проекционная линза с холодным полем мощностью 300 кВ, которая в сочетании с престижной электронной пушкой с холодным полем и системой высокого давления 300 кВ компании Hitachi гарантирует, что HF - 3300 обладает сверхвысокой разрешающей способностью к изображению и высокочувствительному анализу. HF - 3300 обладает * двойной двойной призматической голограммой, которая позволяет получать информацию, недоступную для многих электронных микроскопов пропускания, особенно фазовую информацию, связанную с физическими свойствами материала (например, поле потенциала, магнитное поле и т.д.). В сочетании с спектром потерь энергии электронов элементарных элементов (EELS) и высокоточной технологией дифракции параллельных нанопучков HF - 3300 также может исследовать анализ элементов и структурные характеристики материалов со сверхвысоким пространственным разрешением, открывая новые двери для изучения материалов.

Основные характеристики электронного микроскопа HF - 3300, излучаемого японским полем:

Электронная пушка с высокой яркостью
Характеристики высокой яркости и высокого энергетического разрешения, врожденные электронными пушками с холодным полем, позволяют проводить аналитические исследования в наноразмерном масштабе, внося * вклад в изображения с ультравысоким разрешением и электронную голограмму.

Система высокого давления 300 кВ

Система высокого давления 300 кВ обладает более высокой способностью к проникновению, что обеспечивает изображение с атомным разрешением толстых образцов и снижает сложность подготовки образцов, особенно для металлов, керамики и других образцов с высоким атомным порядком.

* Аналитический потенциал
Новые аналитические технологии, такие как двойная двухпризматическая голография, спектр потери энергии электронов с высоким пространственным разрешением (EELS) и высокоточная дифракция параллельных нанопучков *.

Можно использовать с FIB
Собственный образец японской компании может быть адаптирован к использованию FIB, TEM и STEM.

Простая в использовании система управления
Компьютерная система управления на базе Windows, движущаяся диафрагма и 5 - осевой моторный стенд делают прибор простым и простым в использовании, а 10 - минутное время подъема давления и 1 - минутная смена образца обеспечивают его эффективную работу.

Технические параметры:

Область применения:

В качестве высоковольтных линз, излучаемых холодным полем, HF3300 может использоваться в качестве оборудования для наблюдения с высоким разрешением для большинства образцов материалов (металлов, керамики и т. Д.), что упрощает сложность изготовления образцов и обеспечивает высокое разрешение. В то же время HF - 3300 также может удовлетворить потребности в анализе высокого пространственного разрешения. Электронные пушки с высокой яркостью и низкой цветовой аберрацией с холодным полем обеспечивают элементный и структурный анализ с высоким пространственным разрешением. В сочетании с EELS и функциями дифракции нанопучка можно реализовать распределение элементов в наномасштабе и изучение структуры кристаллов. * Функция двухпризматической голографии позволяет HF - 3300 получать информацию о большем количестве образцов, особенно о физических свойствах, значительно расширяя область применения.