масс - спектрометр с двойным фокусированным свечением

масс - спектрометр с двойным фокусированным свечениемСочетание источника ионов тлеющего разряда и двухфокусного анализатора качества с высоким разрешением позволяет качественно и количественно анализировать почти все элементы твердых образцов, включая C, N и O, и является инструментом для прямого и быстрого анализа содержания журнальных образцов высокой чистоты и состава элементов покрытых материалов.

масс - спектрометр с двойным фокусированным свечениемКонцентрация преимуществ тлеющих разрядов и масс - спектрометрии с высоким разрешением имеет выдающиеся результаты в следующих областях:

Высокий поток испытаний образцов: конструкция источника ионов ELEMENT GD и пробоотборника позволяет сократить время смены и анализа образцов и значительно повысить производительность;

Ширина линейного диапазона детектора: линейный диапазон детектора составляет 12 порядков величин, что позволяет одновременно сканировать состав матрицы и микроэлементов;

Стены низкого, среднего и высокого разрешения с фиксированной шириной позволяют непосредственно анализировать изотопы с масс - спектральными помехами с использованием высокого разрешения.