Оптический трехмерный контур

В 2004 году Sensofar успешно разработала новую технологию plu, которая успешно сочетает в себе технологию сопряжённого фокуса и интерферометрии в сенсорной головке *, которая не требует разборки оборудования *, не требует разборки оборудования *, просто переключается с программного обеспечения, что довольно удобно для пользователей, и эта технология была отмечена премией за изобретение в 2004 году в журнале Photonics Spectra 's.

СенсофарОптический трехмерный контурСнеоксОбладая шероховатостью класса AFM, функцией измерения высоты, бесконтактный способ измерения * не разрушает поверхность образца, простой в использовании, вы можете быстро получить результаты измерения.

Три модели переключаются с помощью программного обеспечения

Совокупная фокусировка:

Общая фокусировка была разработана для измерения от плоской до очень грубой поверхности. При вертикальном сканировании поверхности фокус объектива перемещается по поверхности образца, чтобы определить соответствующую высоту каждого пикселя на поверхности. Общий профиль фокусировки обеспечивает сверхвысокое разрешение с большим допустимым наклоном образца до 71 градуса.

Белая интерференция:

Интерферометрия белого света VSI (Vertical Scanning interferometers) использовалась для измерения поверхности в течение некоторого времени, подметая поверхность объекта с помощью интерферометрических полос, чтобы очертить всю поверхность, обнаруживая положение интерферометрических полос высокой интенсивности.

Фазовая интерферометрия - это новый вид применения интерферометрии, специально предназначенный для работы с образцами с минимальными разностями, образцами с малыми разностями 200 нм или очень плоскими шероховатостями, которые идеально подходят для измерения в этом режиме.

Многофокальная суперпозиция:

Метод мультифокальной суперпозиции используется для измерения очень грубой формы поверхности. Основываясь на опыте Sensofar в области интерферометрии с общей фокусировкой, эта функция была специально разработана для удовлетворения потребностей в измерениях с низкой фокусировкой. Преимуществами этой технологии являются быстрое (mm / s) сканирование в широком диапазоне и большая поддержка наклона (до 86 °). Эта функция особенно полезна для измерения деталей и форм.

Оптический трехмерный контурСнеоксПрименимые отрасли:

LCD、IC、LEDs、Sillicon、 Солнечные батареи, дефекты отверстий, полупроводники, кожа, бумага, измерение шероховатости, марки, измерение толщины пленки, оловянные шарики, алмазы