Добро пожаловать Клиент!

Членство

Помощь

Hubei Anhe Instrument Co., Ltd
Заказчик производитель

Основные продукты:

mechb2b> >Продукты

Устойчивый NanoTR / PicoTR импульсный лазерный теплоотражатель

ДоговариваемыйОбновление на01/22
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения

Обзор

Устойчивый NanoTR / PicoTR импульсный лазерный терморефлексный теплопровод, Hubei Anwo Instruments Co., Ltd. для немецкой компании по продаже в Центральном Китае, основной капитал: термореактивный анализатор

Подробности о продукте

Устойчивый NanoTR / PicoTR импульсный лазерный теплоотражательHubei Anwo Instruments Co., Ltd. для немецкой компании по продаже прокси в Центральном Китае, основной лагерь: термостатический анализатор, дифференциальный сканирующий калориметр, синхронный термоанализатор, термомеханический анализатор, динамический термомеханический анализатор, динамический термомеханический анализатор силы, высокотемпературный динамический термомеханический анализатор, диэлектрический монитор отверждения смолы, серия термоматериальных измерительных приборов, серия адиабатических ускорителей и другие немецкие продукты всей серии.

Использование продукции:

Метод теплового отражения основан на сверхскоростной лазерной системе вспышки, которая измеряет параметры термообразия металлических, керамических и полимерных пленок на подложке, такие как коэффициент тепловой диффузии, теплопроводность, коэффициент теплопоглощения и тепловое сопротивление интерфейса. Эта система может измерять тонкие пленки толщиной до 10 нм. В то же время, система предлагает различные режимы измерения, чтобы адаптироваться к различным базовым ситуациям (прозрачным / непрозрачным).

Производительность продукции:

  • Поскольку время вспышки лазера составляет только наносекундный (ns) уровень и даже достигает пикосекундного (ps) порядка, система может измерять тонкие пленки толщиной до 10 нм.
  • Система предлагает различные режимы измерения, адаптированные к различным базовым ситуациям (прозрачные / непрозрачные).
  • Режим измерения RF: основной лазерный источник нагревает пленку с обратной стороны и обнаруживает процесс повышения температуры пленки, измеряемый лазером с передней стороны, чтобы рассчитать параметры теплопроводности пленки. Этот режим применим к прозрачным базовым чипам.
  • Режим измерения FF: основной лазерный источник нагревает пленку спереди, обнаруживает процесс снижения температуры пленки, измеряемый лазером спереди, и вычисляет параметры теплопроводности пленки. Этот режим применим к непрозрачным базовым пластинам.
  • Метод соответствует критериям:
  • JIS R 1689: измерение коэффициента тепловой диффузии тонкой керамической пленки методом импульсного лазерного теплового отражения;
  • JIS R 1690 - Метод измерения теплового сопротивления на границе между керамической и металлической пленкой.

Параметры продукта:

Краткая история развития:

В 1990 году Японский институт промышленных технологий / Япония * (AIST / NMIJ) изобрел метод теплового отражения для измерения теплопроводности пленки.
В 2008 году AIST основала компанию PicoTherm.
В 2010 году компания PicoTherm выпустила наносекундную систему теплового отражения NanoTR.
В 2012 году компания PicoTherm представила систему теплового отражения PicoTR.
В 2014 году PicoTherm и NETZSCH наладили стратегическое сотрудничество. Компания NETZSCH отвечает за продажи и обслуживание продуктов PicoTherm.

Краткое описание Технический контекст Режим измерения Тип прибора технические параметры Функции программного обеспечения Примеры тестирования Услуги по отбору проб

НаноТР PicoTR
хост диапазон температур
真空度
Режим измерения
RT, RT... 300 °C (опция)
N/A
РФ/ФФ
RT, RT... 500 °C (опция)
10 - 6 mbar (вариант)
РФ/ФФ
Измерения Коэффициент тепловой диффузии
нагревательный лазер импульсная ширина
Длина волны
Диаметр пятна
1 нз
1550 нм
100 мкм
0,5 пс
1550 нм
45 мкм
детекторный лазер импульсная ширина
Длина волны
Диаметр пятна
непрерывный
785 нм
50 мкм
0,5 пс
775 нм
25 мкм
Толщина слоя образца
(Модель RF)
смола
керамика
металл
30 нм. 2 мкм
300 нм. 5 мкм
1 мкм. 20 мкм
10 нм. .. 100 нм
10 нм. 300 нм
100 нм. 900 нм
Толщина слоя образца
(Модель FF)
> 1 мкм > 100 нм
Матрица материал
размер
толщина
Непрозрачность / прозрачность
10... 20 мм квадрат
≤ 1 мм
Время тепловой диффузии 10ns. .. 10 мкс 10 пс. .. 10ns
Коэффициент тепловой диффузии диапазон
Точность
Повторяемость
0.01 . .. 1000 мм²/с
CRM 5808A, толщина 400 нм, режим RF, 40min Проверка времени тестирования: ±6,2%

Устойчивый NanoTR / PicoTR импульсный лазерный теплоотражательHubei Anwo Instruments Co., Ltd. для немецкой компании по продаже нерушимости в Центральном Китае, основной капитал: термостатический анализатор, дифференциальный сканирующий термометр, синхронный термоанализатор