-
Электронная почта
fhx2030@163.com
-
Телефон
13761400826
-
Адрес
3658, 31.
Шанхайская компания по приборам
fhx2030@163.com
13761400826
3658, 31.
Электрический толщиномер для нанесения покрытий Korea Micro Pioneer XRF - 2020
Быстрое неразрушающее испытание толщины покрытия с помощью объектива CCD
Измерение позолоченного, никелевого, медного, хромированного, никелевого, цинкового, серебристого, оцинкованного никеля, луженого. Это...
Измеряемое однослойное, двухслойное, многослойное, сплавное покрытие
Проверка толщины покрытия электролитическим покрытием, покрытием из металла, клеммным разъемом и другими изделиями
Измеряем золочение, серебро. Позцинкование. Никель, лужение. Хроматизация, цинкование, никель и т.д.
Может широко использоваться на предприятиях по производству гальванических покрытий и при проверке готовой продукции
Более эффективный контроль толщины и качества покрытия изделия.
Рентгеновский толщиномер
Может использоваться для измерения толщины различных металлических покрытий деталей, PCB и металлов, разъемов, полупроводников и других продуктов. Для получения результатов измерений требуется всего 10 - 30 секунд, небольшая измеренная площадь составляет площадь круга диаметром 0,2 мм. Диапазон измерений: 0 - 35um;
Измеряется толщина различных металлических покрытий, таких как гальваническое, паровое и ионное покрытие
С помощью CCD - камеры можно наблюдать и выбирать любую крошечную площадь для измерения толщины покрытия на крошечной площади.

Электрический толщиномер для нанесения покрытий Korea Micro Pioneer XRF - 2020
Принцип измерения:
После облучения рентгеновскими лучами или лучами частиц вещество становится нестабильным из - за поглощения избыточной энергии. Чтобы вернуться в стабильное состояние, вещество должно высвободить избыточную энергию, которая в это время высвобождается в виде флуоресценции или света. Принцип флуоресцентного рентгеновского измерителя толщины покрытия или анализатора компонентов состоит в том, чтобы измерять энергию и интенсивность высвобождаемой флуоресценции для качественного и количественного анализа.