Добро пожаловать Клиент!

Членство

А

Помощь

А
Пекинская компания по производству приборов
ЮйЗаказчик производитель

Основные продукты:

mechb2b> >Продукты

трехмерный прибор для измерения поверхностной морфологии

ДоговариваемыйОбновление на04/05
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения

Обзор

Технология Smart Configure and Interface позволяет устройству одновременно измерять шероховатость, трехмерную морфологию и толщину пленки, и именно благодаря этой технологии Smart имеет гораздо более высокую рентабельность, чем другие устройства того же типа.

Подробности о продукте

Характеристики продукции

трехмерный прибор для измерения поверхностной морфологииВес S mart составляет примерно половину от веса S neox (6 кг), а компактный внешний вид делает его более доступным при установке, например, для анализа, который может быть установлен непосредственно в производственном режиме. Как правило, такие факторы, как вибрация или загрязнение вредными веществами, обычно присутствуют в производственной среде и не подходят для размещения измерительных приборов, но S mart учитывает эти факторы при разработке, и конструкция монолитного формирования позволяет ему выдерживать внешнее загрязнение или воздействие вибрации.

Хотятрехмерный прибор для измерения поверхностной морфологииРазмер S mart меньше, чем S neox, но он также сохраняет интерференцию белого света, интерференцию разности фаз, Confocal, Быстрая итерация четырех основных функций, в части источника света также используется светодиодный свет, клиенты могут самостоятельно выбрать 460 нм, 530 нм, 630 нм или белый свет и другие диапазоны.

Технология совмещения фокусировки и интерферометрии Sensofar позволяет устройству одновременно выполнять такие функции, как измерение шероховатости, трехмерная морфология и измерение толщины пленки, и именно благодаря этой технологии оптический контур S mart имеет гораздо более высокую рентабельность, чем другие устройства того же типа. S mart объединяет в себе функции микроскопических изображений, конфокальных изображений, конфокальных профилей, интерферометрии разности фаз (PSI), интерферометрии белого света (VSI) и измерения толщины пленки с высоким разрешением. Этот простой и простой в обучении программный интерфейс, основанный на технологии Microdisplay, позволяет быстро и точно получать необходимую информацию, просто выбирая объектив, правильно фокусируясь и выбирая способ измерения.