Анализатор гальванического покрытияАнализ состава и толщины различных профилей, в частности формовок из металла, санитарно - гигиенических изделий, линейных плат и обработки поверхности прецизионных электронных компонентов.
Анализатор гальванического покрытияПреимущества:
1. Точность анализа
2. Широкая сфера анализа
3. Критерии определения местоположения микрозон
4.Быстрая и простая операция
5. Достоверные результаты
Прецизионные мобильные устройства XYZ: Быстрое * позиционирование, ручное / автоматическое (необязательно), автоматическая версия для достижения программируемого позиционирования многоточечного автоматического тестирования.
Двусторонняя работа программного и аппаратного обеспечения: гуманный дизайн, реализация программного обеспечения, двусторонняя комбинация аппаратных операций.
Фокус + фокусировка: оснащен чувствительным объективом, для достижения безчувственного фокуса, могут быть измерены различные фасоны, сверхбольшие детали.
Анализатор гальванического покрытияПреимущества производительности:
Алгоритм EFP: Многоуровневый многоэлементный, различные элементы и органические вещества, и даже один и тот же элемент может быть измерен * на разных уровнях.
2. Конструкция с верхним освещением: для достижения быстрого, точного и стабильного измерения эффективности сверхбольших деталей.
3. Автофокус: образцы низкого размера могут быть быстро и четко сфокусированы.
Алгоритм устройства с зумом: можно непосредственно обнаружить нижнюю часть впадины глубиной 90 мм.
5. Измерение малой площади: малая измеренная площадь 0,04 мм 2
6. Мобильная платформа с большим ходом: ручной скользящий стол XY 100 * 150 мм, автоматическая платформа XY 210 * 260 мм.
Анализатор гальванического покрытияКонструкция:
i) оптическое коммутационное устройство толщиномера, разработанное шестью приборами, которое позволяет рентгеновским лучам и изображениям видимого света проходить по одной вертикальной линии, достигая визуального и испытательного позиционирования, а рентгеновская диффузия невелика; В сотрудничестве с программным обеспечением EFP для достижения фокусировки, зума двойного фокуса функции, для достижения низкого, неровного тестирования образцов различных форм; Интегрированные оптические коммутаторы и приемники могут уменьшить угол в два раза, уменьшая погрешность, вызванную угловым наклоном, в то время как характерные рентгеновские лучи могут проникать в более толстую поверхность для тестирования.
Анализатор гальванического покрытияОсновной алгоритм EFP:
Основываясь на методах Alpha и Fp, команда разработчиков вычислила многокомпонентную оптимизированную итерацию каждого элемента в образце, такую как первичная флуоресценция, вторичная флуоресценция, флуоресценция целевого материала, эффект усиления поглощения, фон рассеяния и т. Д. Разработал основной алгоритм EFP, в сочетании с * технологией преобразования оптического пути, конструкцией с зумом и стабильной многоканальной системой анализа и сбора импульсов, требующей лишь небольшого количества образцов для коррекции факторов прибора, для проверки толщины и содержания повторяющихся покрытий, неметаллических, легких металлов, многослойных многоэлементных и органических слоев.